21. Microelectronic failure analysis :
المؤلف: prepared under the direction of the Electronic Device Failure Analysis Society Publications Committee
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Handbooks, manuals, etc,Electronics-- Materials-- Testing, Handbooks, manuals, etc,Microelectronics-- Materials-- Defects, Handbooks, manuals, etc,Microelectronics-- Materials-- Testing, Handbooks, manuals, etc,Semiconductors-- Defects, Handbooks, manuals, etc
22. Microelectronic failure analysis: Instrumentation, science, materials and applications
المؤلف: prepared under the direction of the Electronic Device Failure Analysis Society Publications Committee
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)
موضوع: Electronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc,Microelectronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc,Microelectronics--Materials--Defects--Handbooks, manuals, etc,Electronic apparatus and appliances--Testing--Handbooks, manuals, etc,Semiconductors--Defects--Handbooks, manuals, etc
رده :
{
1648
},
fe823984b80082dc2d17ebe2cd118be2
23. Microelectronic failure analysis : desk reference
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Electronics-- Materials-- Testing-- Handbooks, manuals, etc,، Microelectronics-- Materials-- Testing-- Handbooks, manuals, etc,، Microelectronics-- Materials-- Defects-- Handbooks, manuals, etc,، Electronic apparatus and appliances-- Testing-- Handbooks, manuals, etc
رده :
TK
7871
.
M52
1993
24. Microelectronics failure analysis
المؤلف: edited by Richard J. Ross ; EDFAS, ASM International.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Handbooks, manuals, etc.,Electronics-- Materials-- Defects, Handbooks, manuals, etc.,Electronics-- Materials-- Testing, Handbooks, manuals, etc.,Microelectronics-- Defects-- Testing, Handbooks, manuals, etc.,Microelectronics-- Materials-- Testing, Handbooks, manuals, etc.
رده :
TK7871
.
M52
2011eb
